Van Alphen, L., Bol, P., Kok, M. L., Geelen-Van Den Broek, L.
p. 313
Lee, B. C.
p. 317 https://doi.org/10.1099/00222615-34-6-317
Naidu, A. S., Miedzobrodzki, J., Musser, J. M., Rosdahl, V. T., Hedstrom, S. A., Forsgren, A.
p. 323
Lewin, C. S., Amyes, S. G.
p. 329
Donnio, P. Y., Avril, J. L., Andre, P. M., Vaucel, J.
p. 333
Taylor, E. A., Jackman, P. J., Phillips, I.
p. 339
Lopez-Lopez, G., Pascual, A., Perea, E. J.
p. 349
Kita, E., Katsui, N., Emoto, M., Sawaki, M., Oku, D., Nishikawa, F., Hamuro, A., Kashiba, S.
p. 355
Vadivelu, J., Puthucheary, S. D., Navaratnam, P.
p. 363